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DIN EN 61829-1999 晶硅光电(PV)矩阵.I-V特性的现场测量

作者:标准资料网 时间:2024-05-24 22:00:32  浏览:9410   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Crystallinesiliconphotovoltaic(PV)array-On-sitemeasurementofI-Vcharacteristics(IEC61829:1995);GermanversionEN61829:1998
【原文标准名称】:晶硅光电(PV)矩阵.I-V特性的现场测量
【标准号】:DINEN61829-1999
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1999-02
【实施或试行日期】:1999-02-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;试验条件;测量;试验;硅;光电器件;电学测量;太阳能;现场;特性曲线;额定功率
【英文主题词】:Characteristiccurves;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Insitu;Measurement;Photovoltaics;Powerratings;Silicon;Solarenergy;Testconditions;Testing;Voltagecharacteristic
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:8P;A4
【正文语种】:德语


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【英文标准名称】:SquareandRectangularKeysandKeyways-WidthTolerancesandDeviationsGreaterthanBasicSize
【原文标准名称】:方形和矩形键和键槽.宽度公差和大于基本尺寸的偏差
【标准号】:ANSI/ASMEB18.25.3M-1998
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1998
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ASME
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:键槽;机械工程
【英文主题词】:Keyways;Mechanicalengineering;Metric
【摘要】:Coversrequirementssquareandrectangluarparallelkeysandkeywaysintendedforbothalignmentofshaftsandhubs,andtransmittingtorquebetweenshaftsandhubs.KeyscoveredinthisStandardhavearelativelyloosewidthtolerance.
【中国标准分类号】:J18
【国际标准分类号】:21_120_30
【页数】:
【正文语种】:英语



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