IEC/PAS 62165-2000 GaAsFETs的耐热性测量指南
作者:标准资料网 时间:2024-05-09 21:33:24 浏览:8347
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【英文标准名称】:GuidelinesforthemeasurementofthermalresistanceofGaAsFETs
【原文标准名称】:GaAsFETs的耐热性测量指南
【标准号】:IEC/PAS62165-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;电子工程;微波电路;热阻;电气工程;集成电路;电子设备及元件;试验;测量;场效应晶体管
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:9P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:GaAsFETs的耐热性测量指南
【标准号】:IEC/PAS62165-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;电子工程;微波电路;热阻;电气工程;集成电路;电子设备及元件;试验;测量;场效应晶体管
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:9P;A4
【正文语种】:英语
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